PCT（Pressure Cooker Test）试验箱是一种用于评估产品在高温、高湿环境下的可靠性和稳定性的测试设备。又称PCT老化试验箱、PCT试验机、PCT高压加速寿命老化试验箱等,主要用于对电工、电子产品、元器件、零部件、金属材料及其磁性材料在模拟高温、高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验试验。

PCT试验箱的应用场景

在电子电工领域，特别是印刷线路板和半导体行业中， PCT 试验箱主要用于材料的稳定性、耐压性、导电性等方面的性能的测试，可以评估材料的性能和可靠性，为优化生产工艺、提高产品质量和确保器件安全提供有力支持。

在印刷线路板（PCB）行业，PCT试验箱可以用在：

材料筛选：在PCB、FPC等制造过程中，需要选用具有良好耐热性、耐压性、导热性等性能的材料。通过 PCT 试验，可以筛选出适合高温高压环境的材料，以确保印刷线路板的可靠性和稳定性。

工艺优化：PCT 试验可用于评估不同生产工艺对印刷线路板材料性能的影响。通过对比不同工艺条件下印刷线路板的 PCT 试验结果，可以优化生产工艺，提高印刷线路板的性能。

可靠性评估：通过 PCT 试验，可以评估印刷线路板在高温高压环境下的可靠性，为其在实际应用中提供可靠保障。

半导体行业，PCT试验箱可以用在：

封装材料评估：半导体器件的封装材料需要具备良好的耐热性、耐压性、导热性等性能。使用PCT试验箱进行PCT 试验可以帮助评估封装材料在高温高压环境下的稳定性，以确保半导体器件的可靠性和安全性。

芯片制造工艺优化：在芯片制造过程中，各种薄膜材料、介质材料都需要经过 PCT 试验，以确保其在生产过程中的稳定性和可靠性。通过 PCT 试验，可以评估芯片制造过程中不同工艺步骤对材料性能的影响，进而优化工艺参数。

可靠性评估：PCT 试验可用于评估半导体器件在高温高压环境下的可靠性。通过对半导体器件进行长时间的压力锅测试，可以观察其在不同时间尺度上的性能变化，从而为半导体器件的可靠性设计提供参考。

失效分析：在半导体器件出现失效时，PCT 试验可以作为一种有效的分析手段。通过对失效样品进行压力锅测试，观察其性能变化，找出失效原因，为半导体器件的改进提供依据。

PCT试验箱的特点Features:

1.采用进口耐高溫电磁阀双路结构，在很大程度上降低了使用故障率

2.单独的蒸气发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏

3.门锁省力结构，解决首代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点

4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶內空气排出)提升压力稳 定性、再现性

5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小時P

6.水位保护，透过试验室內水位Sensor检知保护。 

7.tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg

8.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮。

PCT试验箱技术方案（参考）：